dr探测器 DR探测器的分类有哪些

DR技术的进步一直与平板探测器技术的发展紧密相连。平板技术的发展主要体现在:动态反应时间和尺寸、像素间距、MTF、DQE等。根据探测器的工作原理和组成材料的不同，DR探测器主要有三种类型:CCD、单线扫描和非晶平板，也就是我们所说的X射线平板探测器。

由于一些物理限制，一般认为CCD不能胜任大面积平板的图像采集，而且CCD设备采集的图像质量远落后于非晶硅/硒平板设备。但是因为CCD的价格优势，世界各地还是有厂商在使用这项技术。

单线扫描又称一维线扫描技术，由俄罗斯科学院核物理研究所发明。目前国内生产的DR探测器很少。虽然该产品的设备成本和辐照剂量远低于平板技术，但该技术存在一些固有的缺点:X射线使用效率低，分辨率在空之间，成像时间长，成像质量差，医生和患者会接受大量的辐射。

非晶体板根据材料的不同可以分为两类:α-硒非晶体硒层和α-硅非晶体硅层

A-Se:这是一种直接探测技术，直接探测硒涂层上的x光子，然后将其电信号转换成数字信号。目前该技术应用范围较小，属于非主流X射线平板探测器。

非晶硅平板探测器:这是一种两步数字转换技术。x光子先转换成可见光，然后通过光电探测技术探测，再转换成数字信号。由于镀膜技术不同，可分为非晶硅+氧化钆平板探测器和非晶硅+碘化铯平板探测器。目前，这项技术在世界著名制造商中得到广泛应用，其应用范围非常广泛。

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