【内存供电芯片用万用表怎么检测】如何测量芯片的好坏

如何测量芯片的好坏

1.电源检查：用万用表直接测量VCC和GND的水平，以确保符合要求。如果VCC偏离5V或3.3V太多，请检查7805或其他电压调节、过滤电路的输出。

2.结晶检查.这也不知道该怎么检查结晶。我的方法比较土壤。一般是再换几个晶振试试电。反正水晶镇不会有很多钱。）

3.检查RESET pin电平逻辑，注意使用的模型是高电平还是低电平。如果MCU一直处于反复复位的状态，呵呵，结果就更不用说了。(阿尔伯特爱因斯坦)(美国电视剧)。

4.如果程序设计为在扩展外部ROM上运行，还必须检查EA脚。

5.检查MCU是否损坏，闪存是否无法下载。建议更换新芯片。

6.如果认为上面没有几个问题，按理说硬件应该正常工作。(为了防止万一，可以用较短的并行照明程序测试最低系统。)。如果测试程序正常工作。它基本上被证实是控制程序的问题。keil反复跟踪调试器，调用子程序后，检查任务寄存器组、累加器、DPTR等是否为预期值。

如何判断Ic芯片的好坏？

第一，不在道路测试中。

这种方法是在IC未焊接到回路中的情况下执行的，通常，每个引脚都对应于接地引脚之间的正反向电阻值，可以与良好的IC进行比较。

二、道路试验

这种方法是通过万用表检测电路(IC中)DC电阻、接地AC DC电压和总工作电流中IC的每个针脚。这种方法克服了可更换IC的局限性和移除IC的麻烦，是检测IC的最常用和实用方法。

2直流工作电压测量

这是在通电的情况下，用多极直流电压齿轮测量直流电源电压、周围组件的工作电压。检测IC的每个针脚与接地直流电压值，并与正常值进行比较，压缩错误范围，从而生成损坏的组件。测量时，请注意以下8点：

(1)万用表要有足够的内阻，要比测量的电路电阻大10倍以上，这样就不会出现太大的测量误差。

(2)一般情况下，将每个电位器旋转到中间位置，如果是电视机，信号源必须使用标准彩色条信号发生器。

3)表笔或探针应采取防滑措施。任何瞬间短路都容易损坏IC。可以通过以下方法防止标笔滑动：用空气芯把一段自行车套在手表末端，手表末端长约0.5毫米左右。这样，时钟末端不仅可以很好地与测试点接触，还可以有效地防止滑动。接触相邻的点不会短路。

(4)如果特定针脚电压与正常值不一致，则需要分析该针脚电压是否对IC的正常操作有重要影响，以及其他针脚电压的相应变化，以判断IC的好坏。

(5) IC针电压受周围部件的影响。如果周围零件发生漏电、短路、开路或变数值，或者周围电路连接了可变电阻电位器，则电位器滑动臂的位置不同，针脚电压也会发生变化。

(6)如果IC的每个针脚电压正常，一般认为IC正常。如果IC部分针脚电压异常，则从正常值最大的部分开始，检查周围的部件是否出现故障，如果没有故障，IC很可能受损。

(7)对于电视等动态接收装置，当有信号时，IC针脚电压会不同。如果发现针脚电压变化很大，而不是不应变化，则根据信号大小和可调整元件的位置，如果反而不变，则可以确认IC损坏。

(8)对于各种工作方式(例如录像机)，根据工作方式的不同，IC针电压也有所不同。

3交流工作电压测量方法

为了了解IC AC信号的变化，可以用带有DB插孔的万用表大致测量IC的AC工作电压。检测时，万用表放置在交流电压齿轮上，时钟笔插入DB插孔。对于没有DB插孔的万用表，需要在定标笔上连接一只0.1 ~ 0.5 F单直电容。该方法适用于工作频率较低的IC，如电视的视频放大、现场扫描电路等。由于这些电路的固有频率和波形不同，测量的数据是近似值，因此只能用作参考。

4.总电流测量方法

这种方法是通过检测IC电源输入线的总电流来判断IC好坏的一种方法。因为IC内部绝大多数都是直接耦合，IC受损(例如PN结被击穿或打开)会导致后级饱和和闭合，从而导致总电流的变化。因此，可以用测量总电流的方法来判断IC的好坏。也可以测量电源路径上电阻的电压降，用欧姆定律计算总电流值。