一、快速变温试验箱的使用:
本发明适用于测试航天产品、信息电子仪器、材料、电工、电子产品以及各种电子元器件在快速温度变化条件下的各项性能指标。
二、快速变温试验箱的规格:
1.机器型号:LS-FX5-225Z
2.温度范围:-40℃ ~+150℃
3.温控精度:0.5℃;
*上述# 2 ~ 4的性能保证应在感温稳定30分钟后进行测量!
4.温度均匀性:2%;
5.加热时间:从室温到150℃,约40分钟。
6.冷却时间:从室温到-40℃,约60分钟。
7.内盒尺寸:测试面积:500×500×400mm。
*注:放置试样的容量不得超过试验区域容量的2/3。
设备安装空房间:至少180×250×300cm。
9.电源:交流1∮ 220 V 50 Hz最大25 A
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