静电屏蔽的原理：外部静电荷与一个导体金属腔外表面感应电荷在金属腔内部形成的电场强度为零，金属腔内部电荷和金属腔内表面电荷在金属腔外面形成的电场强度为零。因此金属腔可以屏蔽外部静电场，接地金属腔可以屏蔽内部静电场。
屏蔽使金属导体壳内的仪器或工作环境不受外部电场影响，也不对外部电场产生影响。有些电子器件或测量设备为了免除干扰，都要实行静电屏蔽，如室内高压设备罩上接地的金属罩或较密的金属网罩，电子管用金属管壳。
静电屏蔽的理论意义间接验证库仑定律。高斯定理可以从库仑定律推导出来的，如果库仑定律中的平方反比指数不等于2就得不出高斯定理。反之，如果证明了高斯定理，就证明库仑定律的正确性。根据高斯定理，绝缘金属球壳内部的场强应为零，这也是静电屏蔽的结论。
若用仪器对屏蔽壳内带电与否进行检测，根据测量结果进行分析就可判定高斯定理的正确性，也就验证了库仑定律的正确性。最近的实验结果是威廉斯等人于1971年完成的，指出在式F=q1q2/r2±δ中，δ<（2.7±3.1）×10-16，可见在现阶段所能达到的实验精度内，库仑定律的平方反比关系是严格成立的。从实际应用的观点看，我们可以认为它是正确的。
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