光电耦合器市场很大,使用量也很大,因此会出现山寨、次品和各种使用保存不当的损坏。为了使我们自己设计的电路能够稳定运行,我们必须自己认识到光电耦合的好坏。(大卫亚设,Northern Exposure(美国电视剧),《艺术》)下一集将介绍如何确认奥拓情侣的好坏。
判断光耦合的好坏,可以通过测量内部二极管和三极管的正向电阻来确定。请把小编知道的几种比较可靠的检查方法都补充一下。
1.比较法去除疑似问题的光耦,用万用表测量内部二极管、三极管的正向电阻值,并与对应于良好光耦的脚的测量值进行比较,如果电阻值差异较大,则光耦受损。
2、数字万用表检测方法以EL817光电耦合器检测为例,说明数字万用表检测方法,检测时将光电耦合器内部二极管的末端{1}脚和-末端{2}脚分别插入数字万用表的HFE的C、E插孔中。此时,数字万用表必须放置在NPN块上。然后连接光电耦合器内部光电晶体管C极{5}针指万用表的黑钟笔、E极{4}针红钟笔,并将手指万用表拨入RX1k齿轮。这样,指针万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化,由此可以判断光电耦合的情况。指针向右偏转角度越大,光耦合的光电转换效率越高,传输比率越高,反之则越低。如果表针不动,光耦就损坏了。
分别测量 3、5V电池和1个4英尺万用表两侧的电阻。一边正反两面无限,这边连接着电源超极,另一边有6-8K阻抗值,可见光耦合很好。
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