ERT光谱共焦技术可以直接测量塑料基板上的涂层、玻璃上的油墨、电路板上的导电银浆和薄膜开关上的导电印刷材料的厚度。
导电银浆用于触摸屏、薄膜开关、电子玩具、电脑键盘、遥控器等各种电子产品。太阳能导电银浆材料是太阳能的核心技术之一,也是除硅之外太阳能电池最重要的材料。太阳能电池的后电极和前电极是用银浆在很多工序中生产的,其中一个生产工序非常重要。银浆的厚度关系到整个产品的质量和安全。但是银浆的厚度很难测量。技术难点在于银浆的印刷厚度通常只有几微米厚,在不损伤机体的情况下精确测量这个厚度的难度可想而知。只有利用光学原理才能准确测量银浆的厚度
这种方法的优点是对物体表面的光学特性不敏感,可以测量各种颜色、反射率和透射率,包括透明材料和镜面反射材料。此外,由于光线从各个方向照射样品,不容易在表面的突变边缘产生影响测量的阴影效应。由于光谱分析仪的分辨率可达纳米级,对外界干扰光不敏感,测量精度高,稳定性好。
随着电子元器件行业(LTCC/MLCC)的发展,对振膜印刷的质量要求越来越高。印刷是LTCC多层基板生产过程中的关键工序之一,其质量应得到保证。如果印刷质量不符合要求,会直接导致短路或开路。印刷质量就是印刷精度,包括工艺精度和设计精度。LTCC印刷厚度可以低至几微米。最高只有几十微米。因此,如何更好地控制其厚度是LTCC过程中令人头痛的问题。经过钢板干膜试验、接触试验、台阶仪试验和激光试验,印刷厚度的精度控制不能保证只有几微米到几十微米。
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